Разработан быстрый метод сканирования для нейтральных атомных пучковых микроскопов

Исследователи из Университета Суонси создали метод визуализации для нейтральных атомных пучковых микроскопов, который позволяет получать микроскопические изображения значительно быстрее, чем существующие методы.